En nyutgiven bok från Agilent Technologies Inc, med titeln ”X-Parameters: Characterization, Modeling, and Design of Nonlinear RF and Microwave Components” beskriver mätteknik, skapande av modeller och simulering.

Utgivare är Cambridge University Press. Boken ger läsarna en omfattande orientering om teorierna bakom X-parametrar och ger exempel från den praktiska verkligheten.
Boken är skriven av av Agilents forskare och utvecklare David E Root, Jan Verspecht, Jason Horn and Mihai Marcu. Dessa fyra uppfann och utvecklade denna mätteknik för olinjära komponenter och system för RF och mikrovåg. De är välkända inom såväl industri som akademi i egenskap av experter på modellering, simulering och mätvetenskap.
Boken går igenom grunderna för X-parametrar och visar praktiska exempel på användbara approximationer. Genom att tillämpa sådana approximationer blir det möjligt att minska kompexiteten för mätningar, modellering och konstruktion inom olinjära arbetsområden. Boken lär också läsarna hur man kan använda X-parametrar för att bemästra intrikata problem vid olinjäriteter in RF- och mikrovågskonstruktion.
I boken beskrivs verkliga fall, definitioner av standardsymboler och skrivsätt, bilagor med detaljerade härledningar samt övningsuppgifter med lösningar. ”X-Parameters: Characterization, Modeling, and Design of Nonlinear RF and Microwave Components” kan beställas från Amazon eller Cambridge University Press.

Filed under: Utländsk Teknik