SoC-test blir tre gånger snabbare
Enligt EDA-företaget Cadence kan företagets nya Modus Test Solution korta ner testtiderna för halvledarkomponenter med en faktor tre. Testtiden är idag en av de stora kostnaderna för både stora och små SoC-konstruktioner.
Scankedjorna hamnar i ett jämnt tvådimensionellt rutmönster
Läs mer..
Läs temaartiklarna om halvledarteknik och effekthalvledare
Läs temaartiklarna om embeddedsystem
Klicka här för att prenumerera på
Elektronik i Nordens Nyhetsbrev
Filed under: Temapuff