SoC-test blir tre gånger snabbare

Enligt EDA-företaget Cadence kan företagets nya Modus Test Solution korta ner testtiderna för halvledarkomponenter med en faktor tre. Testtiden är idag en av de stora kostnaderna för både stora och små SoC-konstruktioner.


Scankedjorna hamnar i ett jämnt tvådimensionellt rutmönster
Läs mer..

Läs temaartiklarna om halvledarteknik och effekthalvledare

Läs temaartiklarna om embeddedsystem

Ladda ner komponentöversikten

Klicka här för att prenumerera på
Elektronik i Nordens Nyhetsbrev

Läs nyhetsbreven på webben

Comments are closed.