Nyckellösa billås
På Electronica demonsterar Rohde & Schwarztestlösningar test av nyckellösa billås (remote keyless entry, RKE) och tillhörande elektroniska styrenhet.
Tack vare en modulbyggd, skalbar lösning har man skapat ett mångsidigt testsystem som kan testa alla kretskortets funktioner på kretsnivå inom produktens alla faser – från utvecklingssteget till att kvalificera en produkt för massproduktion.
Moderna låssystem för bilar, sådana som ”remote keyless entry (RKE)” och ”passive entry/passive start (PEPS)”, använder sig av trådlösa kommunikationsstandarder för att sända den kodade signalen. Hittills har man nyttjat såväl låga frekvenser (t ex 125 kHz) och UHF-frekvenser (t ex 433 MHz) som magnetiska kompassystem som arbetar i tre spatiala axlar (t ex 21 kHz) för att lokalisera ”nyckeln” nära fordonet.
Men tack vare (ultra-wideband, UWB) behöver senaste generationens låssystem bara en trådlös standard inom licensfria frekvensband mellan 3,1 och 10,6 GHz. Mätningar av gångtid (Time of flight, TOF) förhindrar de reläattacker som används för att stjäla fordon. TQF används även för lägesbestämma en nyckel. Vissa tillverkare använder även närfältskommunikation, NFC, för att använda en smartphone som digital nyckel.
Vilken typ av kommunikation som än används för dessa nycklar så behöver de kunna testas. Den testsystemlösning som Rohde & Schwarz ställer ut på Electronica, R&S TS7124AS, är en helautomatisk testare där testobjektet mäts i skärmad testlåda för att undvika interferenser. Lådan är utvecklad med en speciell hållare för testobjektet och tillhörande antennsystem.
Systemet matar testenheten med rätt spänning och mäter matningsströmmarna i olika arbetsmoder och även tidssynkroniserade RF-skurar av UWB. Systemet hanterar även trådburna länkar enligt standarderna LIN, CAN, I2C och SPI.
Med R&S spektrumanalysator FPS kan man utvärdera signaler i tids- och frekvensdomän. En Helmholz magnetspole och tillhörande kompassystem med magnetiska 3D-fält. I lösningen ingår programvara för att styra testsekvenser och för att hantera insamlade mätdata.
Electronica A1:307
Filed under: Mässor och Konferenser