Goepel electronic, som utvecklar elektroniska och optiska test- och inspektionssystem, meddelar att de utökar sin produktportfölj med ytterligare en I/O-modul inom ramen för bolagets”Boundary Scan” hårdvaruplattform Scanflex.

Den nya modulen SFX5212 har tolv oberoende programmerbara I/O-kanaler och kan hantera spänningar på upp till 30 V. Modulen är baserad på företagets variocore-teknik för dynamisk konfiguration av modulspecifika, FPGA-baserade funktioner. Genom att kombinera strukturella och funktionella testprocedurer i en enda plattform kan användaren öka testomfånget för icke-”Boundary Scan”-kretsar eller perifera signaler med högre signalspänning. Förutom att öka testkvaliteten uppges testkostnaderna kunna minskas genom att man kan spara in på separata processteg.

– SFX5212-modulen är särskilt utformad för tester av industriella styrningar eller fordonselektronik där gränssnitt med högre spänningar vanligtvis är integrerade. Modulen kombinerar en hög nivå avseende ”feltäckning” med variabla funktioner och kan därmed bidra till en högre processeffektivitet för användarna. Samtidigt är den nya I/O-modulen en viktig hörnsten i den systematiska expansionen av vår Scanflex produktportfölj, säger Bettina Richter, marknadschef på Goepel electronic.

SFX5212 innehåller tolv kanaler med drivprestanda på upp till 150 mA och som oberoende av varandra kan programmeras som ingång, utgång eller tri-state. I/O-spänningen kan programmeras internt i modulen eller ansluten till en extern källa. Modulen kontrolleras TAP-oberoende via en Scanflex parallellbuss. Om fler kanaler krävs kan flera moduler kaskadkopplas.

Företagets variocore-teknik ger möjlighet till omkonfigurering av hårdvaran/funktionaliteten. Detta kan ske dynamiskt under bråkdelen av en sekund och styrs av Goepel electronics JTAG/Boundary Scan mjukvaruplattform ”System Cascon”, varmed antalet och ordningsföljden av omkonfigureringar är obegränsade under körning av testsekvenser.

Medan modulen fungerar statiskt i ”Boundary Scan”-läget – där alla procedurer såsom interconnecttest eller klustertest understöds – ger det funktionella tillståndet möjlighet till att använda modulen som en protokollgenerator, datainsamlare eller räknare/timer med mera.

SFX5212 stöds fullt ut i den integrerade JTAG/Boundary Scan-mjukvaran ”System Casion” inklusive Automatisk Test Program Generering (ATPG), avlusning och feldiagnoser på pin-nivå från version 4.6.1. Det kan kombineras med alla typer av Scan Flex-contollers och TAP transceivers. Dessutom kan modulen användas tillsammans med ytterligare testtekniker såsom Processor Emulering Test (PET) eller Chip embedded Instrument inom ramverket för Embedded System Access (ESA)-filosofin, enligt ett pressmeddelande från det danska företaget EP-TeQ som levererar lösningar för elektronikproduktion.

Filed under: Utländsk Teknik