Keysights mätsystem A-LFNA för lågfrekventa brusmätningar, bestående av E4727A tillsammans med programvaran WaferPro Express, utgör grunden för ett europeiskt samarbete med Chalmers tekniska högskola, Fraunhofer EMFT i Tyskland, IMEC i Belgien och LAAS.CNRS i Frankrike. Samarbetet har lett till nya möjligheter att mäta brus i exempelvis konstruktioner för IoT och 5G.

Chalmers tekniska högskola har i stor utsträckning kunnat förbättra genomströmningen av mätningar av fasbrus runt oscillatorsignaler. Forskarna utnyttjar också A-LFNAs höga kapacitet och låga brus samt förmågan att kunna växla mellan ström- och spänningsförstärkare för att kunna karakterisera olika enheter. Därigenom blir det möjligt att karakterisera mycket olika typer av komponenter.

Fraunhofer EMFT använde WaferPro Express för att styra A-LFNA för att karaktärisera komponenter med extremt lågt brus.
– Systemet kan automatiskt efterbearbeta rådata matematiskt vilket gör att vi snabbt kan se förbättringar i brustal hos våra nyutvecklade komponenter, säger diplomingenjör Werner Muth.

Från Laas-CNRS rapporterar seniorforskare Jean-Guy Tartarin: LAAS-CNRS har omfattande och bred erfarenhet av hög- och lågfrekventa brusmätning, med två lågfrekventa experimentella inställningar som för närvarande finns tillgängliga, 400 mA max och 1 Hz – 1 MHz, samt robusta programvara för att återge spektrum.
– Med den nya analysatorlösning som föreslagits av Keysight inom ramen för Low Frequency Noise European Center blir det möjligt att ta oss an nya utmaningar som antalet samplingspunkter och nollställen. De automatiserade mätningarna spar tid.

Andra resultat av det pågående samarbetet är att med A-LFNA kunna mäta brus från CMOS-sensorer ned till extremt låga frekvenser (0,030 Hz) som är överlagrade på 200 V förspänning. På såväl ”bulk”-kisel som SOI kan A-LFNA genomföra brusmätningar ”state-of-the-art” på ett brusgolv uttryckt som 2^-27 A²/Hz. Utrustningen har uppgraderats för att kunna mäta upp till 40 MHz.

Filed under: SvenskTeknik