E6607C EXT kan testa flera apparater samtidigt, t ex smartphone med flera radioenheter, radioformat och frekvensband. En integrerad multiportsadapter gör nu att EXT-C kan testa tre gånger snabbare än föregångaren EXT-B, till 1,3 gånger priset.

EX-C är en testare i vars hölje ryms vektorsignalgenerator, vektorsignalanalysator, höghastighets sekvensanalysator, åtta bi-direktionella in/ut-gångar för flerformats mobiltester, och fyra utportar för GNSS-test.
Enheten är optimerad för testmetoder utan signalering och med snabba sekvenser vilket krävs för att testa chip-satser för senaste generationens trådlösa modem. EXT-C synkroniserar med moderna chip-satser för att eliminera signalöverlappning och göra det möjligt att åstadkomma multipla mätningar från en enda signalinsamling.
EXT-C bygger på mätteknologin från X-seriens mätinstrument som utvecklats för Agilents spektrumanalysatorer. Det innebär att EXT-C kan konfigureras med en uppsjö av mätapplikationer för X-seriens instrument, med stöd för standarder som LTE FDD, LTE TDD, TD-SCDMA och 2G/3G.
Det finns också en uppsättning kompletterande programvaruverktyg för att utveckla tester med EXT-C. Ett exempel är Agilents Signal Studio med vars hjälp man kan skapa vågformer för att generera icke signalerande styr- och testsignaler med EXT-C.
E6607C är helt bakåtkompatibel med den tidigare generationen E6607B, i kombination med E6617A MPA.
EXT-C täcker frekvenser upp till 3,8 GHz (för att klara LTE TDD band 43) och har stöd för de testmoder med snabb sekvens som senaste chip-satser kräver.

Filed under: Utländsk Teknik