Posted on oktober 29th, 2015 by Gunnar Lilliesköld
Allt fler radiosystem måste kunna samexistera i en bil. Det innebär att de måste kunna sända eller mottaga utan att störa varandra. Risken för störningar måste elimineras redan under utvecklingsprocessen.
Filed under: Avstorning | Kommentarer inaktiverade för Samexistensmätningar borgar för god mottagning i bilen
Posted on oktober 29th, 2015 by Gunnar Lilliesköld
I en omvärld där affärer genomförs allt tätare takt och där utvecklingscyklerna är allt kortare behövs det EMC-mätverktyg som ger precisa och pålitliga mätningar. Samtidigt skall de kunna ge korta testtider och hög produktivitet för att nå framgång.
Filed under: Avstorning | Kommentarer inaktiverade för EMC måste kunna mätas snabbare
Posted on oktober 29th, 2015 by Gunnar Lilliesköld
Med ”Silent Switcher” kan man minska elektromagnetiska störningar och förbättra verkningsgraden. Det beskriver här Christian Kueck, strategisk marknadschef för krafthanteringsprodukter inom Linear Technology Corporation.
Filed under: Avstorning | Kommentarer inaktiverade för Tyst switchning minskar störningarna
Posted on maj 7th, 2015 by Göte Fagerfjäll
USB 3.0 har tio gånger högre överföringshastighet än USB 2.0. Men det innebär också ökad känslighet för ESD och större krav på ett ESD-skydd som inte försämrar signalintegriteten. Jeremy Correale från ON Semiconductor tittar här på hur problemen kan lösas.
Filed under: Avstorning | Kommentarer inaktiverade för Hantera ESD i USB 3.0
Posted on oktober 23rd, 2014 by Gunnar Lilliesköld
Valet av komponenter och kretskortslayout i praktiskt taget alla kraftenheter är avgörande för om de ska lyckas eller misslyckas. Valen bestämmer enheternas beteende med avseende på funktioner, elektromagnetisk störning (EMI, electromagnetic interference) och värmehantering. Om det skriver här Tony Armstrong, marknadsdirektör, kraftprodukter, och Christian Kück, strategisk marknadschef, krafthanteringsprodukter vid Linear Technology Corporation.
Filed under: Avstorning | Kommentarer inaktiverade för Minska störningarna i industrimiljöer
Posted on oktober 23rd, 2014 by Gunnar Lilliesköld
Det är viktigt att kunna verifiera att en produkt uppfyller tillämpbar EMC-standard vid produktutveckling. FFT-baserad skanning i tidsdomän snabbar upp processen när man gör stegvisa förbättringar av EMC-egenskaperna. Ett färgkodat spektrum bidra till att förenkla analysen av mätresultaten.
Filed under: Avstorning | Kommentarer inaktiverade för Mät ledningsbundna störningar i realtid
Posted on oktober 24th, 2013 by Gunnar Lilliesköld
Christian Kueck, strategisk marknadschef för krafthanteringsprodukter, Linear Technology Corp, ger i den här artikeln ett antal handfasta råd i hur man undviker elektromagnetiska störningar (EMI) i kraftaggregat för att uppnå elektromagnetisk kompabilitet (EMC).
Filed under: Avstorning | Kommentarer inaktiverade för Konstruera störningsfri kraft Del1
Posted on oktober 24th, 2013 by Gunnar Lilliesköld
Oscilloskop var förr knappast lämpade för EMC-felsökning med sin låga känslighet och svåranvända FFT-funktioner med svaga prestanda. Dr Markus Herdin, Rohde & Schwarz, München Senior Marketing Experte für Oszilloskope beskriver hur R&S RTO från Rohde & Schwarz tack vare sitt lågbrusiga ingångssteg och mycket goda FFT-egenskaper kan vara ett kraftfullt verktyg för EMC-felsökning.
Filed under: Avstorning | Kommentarer inaktiverade för Mät EMC med hjälp av oscilloskop
Posted on oktober 24th, 2013 by Gunnar Lilliesköld
Det kan bli dyrbart att sent upptäcka EMC-problem. Den här artikeln ger svar på hur man bäst kan göra en förberedande mätning, ”pre compliance”, för att på ett tidigt stadium kunna optimera sin konstruktion i störningshänseende. Artikeln kommer från Agilent Technologies.
Filed under: Avstorning | Kommentarer inaktiverade för Kontrollera strålad och ledningsburen störning före sluttest av EMC
Posted on oktober 24th, 2013 by Gunnar Lilliesköld
Avancerade CMOS-processteknologier gör att kretskonstruktörer kan konstruera högpresterande enheter men de kräver också extra ESD-skydd på kretskorten för att garantera produktens tillförlitlighet.Robert Ashton Ph D, sr protection & compliance specialist, ON Semiconductor, beskriver här några teknologitrender för integrerade kretsar.
Filed under: Avstorning | Kommentarer inaktiverade för Matcha ESD-skydd mot processgeometri