196 personer deltog i National Instruments nationella evenemang NIdays, när de gav exempel på företagets nuvarande status och om hur marknaden för test och mätningar förväntas utvecklas. Företaget sammanfattar väl dessa tekniktrender i sin nyutgivna rapport "2010 Automated Test Outlook".

Rapporten beskriver utförligt viktiga nyheter och metoder som påverkar test och mätning inom flera branscher, till exempel kommunikation, flyg och försvar, halvledare, fordons- och konsumentelektronik.
Rapporten grundar sig på de insikter som National Instruments fått genom att arbeta tillsammans med företag inom många branscher.
Rapporten kombinerar information från akademisk forskning, marknadsinformation, användarenkäter, online-forum, återkoppling från kundernas experter och säljdiskussioner från fältet. Rapporten ger en bild av kommande trender och metoder med fokus på affärsmässighet och tekniska utmaningar inom test och mätning. Den är uppdelad på kategorierna affärsstrategi, arkitekturer, databehandling, mjukvara och I/O. Rapporten tar upp:
* Standardisering: Att skapa en gemensam testplattform minskar kostnaderna och ökar återanvändningen under produktens livscykel. Här gäller det att finna rätta balansen mellan en rigid specifikation och ingen standard alls.
"Never bet on one bus" manar National Instruments. av företagets kunder använder 64 procent GPIB, 56 procent PXI, 44 procent seriellt gränssnitt, 36 procent LAN, 23 procent PCI/PCI express, 23 procent USB, 23 procent VXI och 8 procent andra typer av bussar. I stor omfattning bygger hybridsystem av busstandarder.
* Flerkanals RF-test: Ökad komplexitet resulterar i längre testtider och kostnadsökningar. Detta tvingar fram nya testlösningar. Test av nästa generations trådlösa enheter kräver en välsynkroniserad parallelltestarkitektur från signal till mjukvara. Två tekniktrender driver framför allt utvecklingen av RF-test: MIMO och en konvergens av flera olika radiosystem i samma produkt, t ex GPS och WLAN.
* Peer-to-Peer-system: De allt komplexare testbehoven medför att det krävs högre hastigheter och punkt-till-punkt-arkitekturer, så att data direkt kan överföras mellan två kort i stället för att ta vägen via en processor. Genom att ha distribuerade arkitekturer där massor av processorkärnor samverkar blir det möjligt att hantera enorma datamängder. Rapporten talar om storleksordningen pentabyte (tusentals tearbyte) data varje dag för ett avancerat testsystem. Detta kommer att ske inom fem år.
* Konstruktion och testning av inbyggda system: Programvara för test i realtid gör att man kan återanvända testerna jämsides med de inbyggda systemmodellerna under hela utvecklingsprocessen.
* Omkonfigurerbara instrument: FPGA-baserade instrument möjliggör en ny prestandanivå och flexibilitet genom att göra det lättare att konfigurera om ända nere på hårdvarunivån.
FPGA förenklar test av system som följer flera standarder som GSM, WCDMA och LTE.
En SDR, "software defined radio", kan ställas om mellan standarderna på bara några millisekunder, vilket förbilligar testutrustningen och spar dyrbar tid.

Filed under: Utländsk Teknik