Posted on september 26th, 2013 by Gunnar Lilliesköld
Visserligen har ett stjärnnätverk mindre maximal täckning än ett meshnätverk. Med programvaran kan bli mycket komplex vid multipla noder. För de flesta OEM-tillverkare är det därför betydligt mer fördelaktigt att implementera ett stjärnnätverk än ett meshnätverk. Och kan man faktiskt uppnå multikilometertäckning med ett enkelt stjärnnätverk på ISM-banden. Det skriver här Alviano Burello,Business Development Manager […]
Filed under: Mikrovag | Kommentarer inaktiverade för Uppnå kilometertäckning med stjärnnät på ISM-band
Posted on september 26th, 2013 by Gunnar Lilliesköld
Provningsteamet hos halvledartilvlerkaren ams har utvecklat en standardprovningsrutin för både karakterisering och produktion av IC. Metoden är att använda en chirp-signal för att frekvenssvepa ett filter och detta görs i en engångsmätning. Den beskrivs här av Peter Sarson, provnings- och utvecklingschef samt Andreas Wild, marknadschef, affärsenheten för halvledartillverkning (Full Service Foundry) inom ams AG.
Filed under: Mikrovag | Kommentarer inaktiverade för Prova och karakterisera RF-filter med ny metod
Posted on september 26th, 2013 by Gunnar Lilliesköld
För att kunna simulera RF-kretsar krävs det simuleringsmodeller. Den här artikel, författad av Takao Inoue, National Instruments, och Joel Kirshman, AWR (som numera tillhör National Instruments) visar hur man kan ta fram egna simuleringsmodeller automatisk med hjälp av instrument och systemsimuleringsmjukvara.
Filed under: Mikrovag | Kommentarer inaktiverade för Ta fram egna modeller
Posted on september 26th, 2013 by Gunnar Lilliesköld
Att mäta toppeffekten för en radiosignal innebär att man måste vara vaksam mot flera osäkerhetsfaktorer. Sook Hua Wong, som arbetar med produktplanering inom Agilent Technologies Inc, förklarar var och hur osäkra mätningar kan uppstå . Hon inleder med en kort beskrivning av tekniker för att mäta toppeffekt och ger också en bakgrund till osäkerheter vid […]
Filed under: Mikrovag | Kommentarer inaktiverade för Beräkna mätosäkerheten vid toppeffekt
Posted on september 26th, 2013 by Göte Fagerfjäll
Fujifilm och imec har gemensamt utvecklat en fotoresistteknologi som klarar mönster i submikronformat för organiska halvledare.
Filed under: Utländsk Teknik | Kommentarer inaktiverade för Ny fotoresist för organiska halvledare
Posted on september 25th, 2013 by Gunnar Lilliesköld
Nyligen har Yokogawa uppgradera sitt europeiska lab för kalibrering för att kunna ta sig an de flesta instrument inom test- och mätindustrin.
Filed under: Utländsk Teknik | Kommentarer inaktiverade för Yokogawa uppgraderar sitt europeiska kalibreringslab
Posted on september 25th, 2013 by Gunnar Lilliesköld
40 procent av världens elkraft konsumeras av elektriska motorer inom industrin! Analog Devices vänder sig nu till denna gigantiska marknad med en motorstyrkrets med intressanta data. Kretsen passar även in i en annan växande marknad, nämligen växelriktare (inverters) för solceller, som väntas uppgå till 155 miljarder dollar år 2018.
Filed under: Utländsk Teknik | Kommentarer inaktiverade för Motorstyrning med exceptionella data
Posted on september 25th, 2013 by Göte Fagerfjäll
Prevas drar nytta av Bluetooth Low Energy för att minimera energiförbrukningen i sina system. Tekniken gör att knappcellsdrivna enheter kan fungera i flera månader utan att behöva laddas.
Filed under: Nordisk Teknik | Kommentarer inaktiverade för Bluetooth Low Energy ger energisnåla lösningar
Posted on september 25th, 2013 by Göte Fagerfjäll
Från IAR Systems kommer en ny serie verktyg för de energieffektiva MSP430-processorerna från Texas Instruments. Bland annat har mattebibliotek och fler processorvarianter kommit till.
Filed under: SvenskTeknik | Kommentarer inaktiverade för Nya IAR-verktyg för MSP430
Posted on september 25th, 2013 by Göte Fagerfjäll
Altera kan nu leverera volymkvantiteter av sina Cyclone V-komponenter och provkvantiteter av sina Arria V-komponenter.
Filed under: Utländsk Teknik | Kommentarer inaktiverade för SoC med FPGA i produktion