Posted on februari 24th, 2012 by Göte Fagerfjäll
Genom att välja komponenter, speciellt kondensatorer, på rätt sätt går det att konstruera DC-DC-omvandlarmoduler som klarar höga temperaturer och ändå har lång livslängd. Ann-Marie Bayliss, marknadschef hos Murata Power Solutions, gör här en genomgång av de olika nyckelkomponenterna.
Filed under: Kontaktdon | Kommentarer inaktiverade för Konstruera DC-DC-omvandlare för högre temperatur
Posted on februari 24th, 2012 by Gunnar Lilliesköld
SDH har varit det dominerande protokollet för transportnät under de två senaste decennierna. På senaste tiden har dock OTN tagit över som det populäraste protokollet för transportnät.David Kirk, Director of Marketing, Communications Business Unit, Exar jämför här dessa båda protokoll i syfte att ge ett perspektiv på hur och varför OTN har ersatt SDH.
Filed under: Opto | Kommentarer inaktiverade för OTN tar över efter SDH i transportnät
Posted on februari 24th, 2012 by Gunnar Lilliesköld
Kraftiga lysdioder håller på att bli en populär lösning för många belysningstillämpningar som drivs av elnätet. Jeff Gruetter marknadsingenjör inom kraftprodukter hos Linear Technology Corporation, går in på de nya krav på drivkretsar som ställs och på hur dessa bör utformas.
Filed under: Opto | Kommentarer inaktiverade för LED-lampor ökar kraven på drivkretsen
Posted on februari 24th, 2012 by Gunnar Lilliesköld
SMU står för Source Measuring Unit. Den typen av kombinerad källa/mätenhet är utmärkt för att karakterisera ljusstarka lysdioders egenskaper, skriver Jun Kurita, HSTD R&D Project manager, och Stewart Wilson, European Business Manager for Semiconductor Parametric Test Systems, båda inom Agilent Technologies.
Filed under: Opto | Kommentarer inaktiverade för Utvärdera lysdiodens ljusstyrka med SMU
Posted on februari 24th, 2012 by Göte Fagerfjäll
Kvaliteten hos ett embeddedsystem beror framför allt på kvaliteten hos programvaran. Ändå brister det ofta i programvarutesten. Magnus Unemyr, från Atollic AB i Jönköping, tittar här både på problemen och på de verktyg som hans företag har utvecklat för att förenkla programvarutesten.
Filed under: Embedded | Kommentarer inaktiverade för Automatisera programtest i embeddedsystem
Posted on februari 24th, 2012 by Göte Fagerfjäll
Med en rad korrektioner och optimeringar har halvledartillverkarna lyckats att nå förvånansvärt högt produktionsutbyte, också i de senaste geometrierna. Men ännu så länge har man inte tagit hänsyn till variationerna över arean på en wafer. Philippe Morey-Chaisemartin och Eric Beisser från det franska EDA-företaget Xyalis beskriver här en metodik som gör det möjligt att kompensera […]
Filed under: EDA | Kommentarer inaktiverade för Högre utbyte med noggrannare korrektion
Posted on februari 24th, 2012 by Göte Fagerfjäll
Efter flera generationer av FPGA-enheter med all högre densitet och allt fler funktioner måste konstruktörer nu flytta fokus till energiförbrukningen. Chandra Sekar Balakrishnan, systemutvecklare hos Xilinx, visar här hur man kan ta hänsyn till energiförbrukningen från de allra första stegen i konstruktionscykeln.
Filed under: EDA | Kommentarer inaktiverade för Optimera FPGA för låg energiförbrukning
Posted on februari 24th, 2012 by Göte Fagerfjäll
Design och verifiering av systemkretsar kräver analys av enorma mängder data om den strukturella uppbyggnaden och det temporala beteendet hos konstruktionerna. Archie Feng och Thomas Li från SpringSoft visar här hur designarbetet kan effektiviseras med ett anpassat flöde och att information återanvänds genom hela designflödet.
Filed under: EDA | Kommentarer inaktiverade för Effektivare med anpassning och återanvändning
Posted on februari 24th, 2012 by Göte Fagerfjäll
Verktyg för Asic-konstruktion är för det mesta mycket dyra. Men det finns alternativ för de som inte använder de allra senaste processerna eller helt enkelt inte har råd. Paul Double, vd för EDA Solutions presenterar här ett exempel på ett lågprisflöde för utveckling av konventionella blandat analoga och digitala Asic-kretsar.
Filed under: EDA | Kommentarer inaktiverade för Asic-konstruktion till lågpris
Posted on februari 24th, 2012 by Göte Fagerfjäll
Säkerhetskritiska system ställer speciella krav på verifieringsarbetet. Ian Gibbins, applikationsingenjör hos Aldec, tar i den här artikeln upp verifieringsproblem för FPGA-baserade system.
Filed under: EDA | Kommentarer inaktiverade för FPGA-verifiering i kritiska miljöer